.: Laboratório de Difração e Espectroscopia (Lades) :.

O uso de técnicas de espectroscopia óptica (Raman, FTIR e UV-Vis) e de fluorescência de raios X em conjunto com a difratometria de raios X para a investigação da matéria constitui uma importante ferramenta para a caracterização das propriedades físico-químicas de diversos sistemas de materiais. A análise de propriedades ópticas, vibracionais, eletrônicas, identificação de estruturas cristalinas e composição química, além de medidas de propriedades microestruturais (tensão residual, textura cristalográfica e tamanho de cristalitos) são exemplos desta capacidade.

Infraestrutura

Espectroscopia Raman

• Medidas espectroscópicas das propriedades eletrônicas e vibracionais de amostras sólidas, líquidas e gasosas com as seguintes linhas de excitação laser: 457 nm, 488 nm, 514 nm, 633 nm e 785 nm;
• Medidas nos modos de operação: triplo subtrativo (podendo chegar a regiões muito próximas da linha do laser), triplo aditivo e modo simples com filtros notch.

Espectrofotometria na faixa do UV-Vis

• Medidas de absorção óptica em amostras sólidas, líquidas ou pastosas na faixa de 175 a 3300 nm.
• Medidas de refletância difusa.

Espectroscopia na faixa do infravermelho (FT-IR)

• Medidas de absorção no FT-IR na faixa de 30 a 15800 cm-1 com alto desempenho em amostras sólidas, líquidas ou em pó.

Difratometria de Raios X (DRX)

• Medidas de difração de raios X com alta resolução, usando diversos acessórios especiais: tubos de raios X com alvos diferentes, espelho de Gobel primário, detector Sol-X, goniômetro euleriano, entre outros;
• Análises estruturais e microestruturais de materiais cristalinos, análise de ângulo rasante e reflectometria de filmes finos, medidas de textura cristalográfica e tensões residuais.

Espectrometria de Fluorescência de Raios-X (FRX)

• Análise química de materiais com alta sensibilidade, sendo capaz de realizar análises elementares de traços.

Linhas de Pesquisa

• Análise estrutural e microestrutural de diversos sistemas de materiais (fármacos, argilas, ligas metálicas, óxidos, etc);
• Caracterização de novos materiais tais como: grafenos e nanotubos;
• Análise química de biocombustíveis;
• Desenvolvimento de método para medidas de tamanho de cristalitos;
• Desenvolvimento de método para medidas de tensão residual por difração de raios X.