.: Laboratório de Microscopia (Nulam) :.

O Laboratório de Microscopia possui à sua disposição as mais avançadas técnicas de caracterização microscópica, que vão desde a microscopia eletrônica de varredura em modo ambiental até a microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução. Desta forma o Nulam busca estar sempre pronto para atender as mais diversas demandas no que se refere à caracterização microestrutural e elementar dos materiais, além de fornecer ferramentas indispensáveis para o desenvolvimento da nanociência e da nanotecnologia.

Infraestrutura

Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)

• Análises de materiais nos modos de alto vácuo, baixo vácuo e em modo ambiental;
• Análise elementar com detector de energia dispersiva (EDS);
• Análise de resíduos de tiro (GSR);
• Análises de cristalografia e textura com difração de elétrons retroespalhados (EBSD).

Microscopia Eletrônica de Transmissão de Alta Resolução (MET)

• Análise estrutural de materiais com alta magnificação na faixa de 80-300 kV por meio de microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução (sub-Angstrom) ou microscopia eletrônica de transmissão e varredura;
• Análises por tomografia eletrônica 3D;
• Medidas de espectroscopia por perda de energia de elétrons (EELS);
• Microscopia eletrônica de transmissão de energia filtrada (EFTEM).

Microscopia eletrônica de varredura de alta resolução (MEV/FEG) e Feixe de Íons Focalizados (FIB)

• Microscopia eletrônica de varredura de alta resolução (usando canhão de emissão de campo) fornecendo imagens de superfície e de estruturas abaixo da superfície;
• Microscopia eletrônica de varredura por feixe de íons focalizados;
• Nanofabricação, manipulação de amostras (deposição ou remoção de material), confecção de nanopadrões, reparos e prototipagem.
• Preparação de amostras para microscopia eletrônica de transmissão.

Linhas de Pesquisa

• Caracterização e manipulação de novos materiais tais como: grafenos, nanotubos e nanopartículas;
• Investigação de fenômenos químicos e estruturais de materiais nas escalas micrométrica, nanométrica e atômica;
• Desenvolvimento de padrões dimensionais em escala nanométrica.