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    Página InicialLaboratóriosEnsaio - Divisão de Metrologia de Materiais

      
    .: Ensaio - Divisão de Metrologia de Materiais :.


    Labmi (Laboratório de Microscopia)
    Lafes (Laboratório de Fenômenos de Superfície e Filmes Finos)
    Lates (Laboratório de Propriedades Termofisicas e Espectroscopias)
    Labit (Laboratório de Biomateriais e Tribologia)

     

    Labmi (Laboratório de Microscopia)
    SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
    01 - Microscopia Eletrônica de Varredura
      8532  Imagem por Microscopia Eletrônica de Varredura (Emissão termo-iônica - Filamento)
    8534  Análise Química por Espectroscopia por Dispersão de Energia (EDS)
    8802 Textura cristalográfica por EBSD
    8804 Preparação de amostra metalográfica para EBSD
    8805 Outros serviços de microscopia eletrônica - DIMAT
    8245 Micro Corte por Feixe Focalizado de Íons (FIB) para Análise de Seção Transversal
    8246 Micro Corte por Feixe Focalizado de Íons (FIB) para Preparação de Amostras para Microscopia Eletrônica de Transmissão
    8284 Imagem por Microscopia Eletrônica de Varredura (Emissão por efeito de campo - FEG)
    8793 Litografia por feixe Focalizado de Íons (FIB)
    8794 Análise por Microscopia de Feixe de Íons de Hélio
    02 - Microscopia Eletrônica de Transmissão
      8285 Imagem por Microscopia Eletrônica de Transmissão (Emissão termo-iônica - Filamento)
    8286 Imagem por Microscopia Eletrônica de Transmissão (Emissão por efeito de campo - FEG)
    03 - Microscopia Ótica
      8806 Análise metalográfica - imagem (MO)
    8807 Tamanho de Grão (MO)
    8810 Preparação de amostra metalográfica para MO
    8811 Análise por Microscopia Óptica de Campo Próximo (TERS)
    04 - CEATIM (Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para uso Multiusuário)
      7501 CEATIM TITAN
    7502 CEATIM - Tecnai 80-120kV
    7503 CEATIM Helios Nanolab 650
    7504 CEATIM Quanta 200
    7505 CEATIM Nova Nanolab 600
    7506 CEATIM Nova Nanolab 600 - FIB preparação de amostra para TEM
    7507 CEATIM Zeiss Orion Nanolab TriBean (He,Ne e Ga)
    7508 CEATIM Helios Nanolab 650 - FIB para seção transversal
    7509 CEATIM Nova Nanolab 600 - FIB seção transversal
    7510 CEATIM Hélios Nanolab 650 - FIB preparação de amosta para TEM
    7511 CEATIM Magelam 400
    7558 CEATIM Quanta 200 -Análise Química por espectroscopia por dispersão de energia - EDS

    Lafes (Laboratório de Fenômenos de Superfície e Filmes Finos)
    SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
    01 - Fenômenos de Superfície
      8186 Imagem Topográfica por Microscopia de Força Atômica
    8187 Análise Química de Superfícies por Espectroscopia de Elétrons (XPS e AES)
    8188 Análise de superfície por STM
    8950 Análise de Rugosidade por AFM
    8951 Análise Química de Superfícies (XPS, Quanti)
    8952 Análise Química de Superfícies (XPS, Profundidade)
    02 - Deposição de Metais
      8367 Deposição de filmes finos em substratos planos com área de no máximo 5x5 cm e espessura de 10 a 5000 A com erro máximo de 5%
    8423 Produção e caracterização de dispositivos orgânicos OLEDS e/ou fotovoltaicos
    03 - CEATIM (Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para uso Multiusuário)
      7512 Microscópio de Força Atômica Nanowizard - JPK Instruments
    7513 Microscópio de Varredura por Tunelamento c/ Ultra-Vácuo Omicron
    7514 Sistema de Análise de Superfície XPS Omicron
    7515 AFM/Raman Witec
    7526 Sistema de Produção de Filmes Finos Metálicos Orgânicos e Óxidos em Alto Vácuo

    Lates (Laboratório de Propriedades Termofisicas e Espectroscopias)
    SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
    01- Espectroscopia Optica e Difração de Raios X
      8812 Espectroscopia no Infravermelho por Transformada de Fourier.
      8203 Espectroscopia de Espalhamento Raman
      8204 Difração de Raios X
      8205 Tensão Residual por Difração de Raios X
      8716 Ensaio de Espectroscopia na região do UV-Visível-NIR
      8206 Outros serviços em Espectroscopia Óptica e Difração de Raios X:
    • Difração de raios X de pó, análise qualitativa de fases.
    • Análise química qualitativa por fluorescência de raios X.
    • Difração de raios X de pó, análise quantitativa de fases via método de Rietveld.
    • Caracterização de poliestireno para análise FT-IR.
    • Análise dimensional de cristalitos por difração de raios X.
    • Quantificação de Defeitos em Grafeno por Espectroscopia Raman.
    • Identificação de ângulo de rotação de bicamada rodada de grafeno por Espectroscopia Raman.
    • Identificação de Número de Camadas de Grafeno por Espectroscopia Raman.
      8812 Obtenção de espectro de FT-IR por transmitância em pastilha de KBr.
    02 - Análises Térmicas e Materiais Particulados
      8820 Determinação de área específica (BET) e volume e diâmetro de poros (Gurvich) por adsorção de nitrogênio.
      8826 Determinação do diâmetro hidrodinâmico de nanopartículas em suspensão por espalhamento de luz dinâmico
      8225 Pureza por Calorimetria Exploratória Diferencial (DSC) de amostras líquidas e sólidas (pureza superior a 98,5%) na faixa de temperatura entre -90 e 400ºC
      8227 Outros serviços em análises térmicas e materiais particulados
    • Análise termogravimétrica (TGA).
    • Determinação do Potencial Zeta por DLS.
    • Análise mecânica dinâmica (DMA).
    • Verificação do equipamento DLS para análise de tamanho de partículas em suspensão.
    • Medição de difusividade térmica de amostras opacas pelo método flash.
      8826 Determinação do diâmetro hidrodinâmico de nanopartículas em suspensão por espalhamento de luz dinâmico (DSL)
      7530 Relatório Técnico Lates
      7965 MRC Hidroxiapatita - A (cristalitos anisotrópicos)
      7966 MRC Hidroxiapatita - I (cristalitos isotrópicos)
      8715 Ensaio por Calorimetria Exploratória Diferencial
    03 - CEATIM (Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para uso Multiusuário)
      7516 CEATIM DRX D8 Focus
    7517 CEATIM - FTIR Spectrum GX
    7518 CEATIM - DRX - D8 Discover
    7519 CEATIM - UVVIS - Lambda 950
    7520 CEATIM Raman Renishaw
    7521 CEATIM - Raman Horiba
    7199 CEATIM BET - Analisador de Área Superficial
    7226 CEATIM - Fluorescência de raio X Bruker

    Labit (Laboratório de Biomateriais e Tribologia)
    SUBGRUPO ITEM ITEM/ESPECIFICAÇÃO
    01 - Tribologia
      8371 Ensaio de Desgaste utilizando um Tribômetro.
      8693 Ensaio de Riscamento Utilizando um Tribômetro
      8508 Ensaio de Prótese de Quadril utilizando um equipamento simulador
      8733 Ensaio de desgaste de prótese de joelho utilizando um equipamento simulador.
      7531 Relatório Técnico Labit.
      8795 Ensaio de desgaste de prótese de disco cervical utilizando um equipamento simulador.
      8105 Outros serviços em Tribologia:
    • Medição de topografia de superfícies por perfilometria.
    • Análise de superfície por microscopia óptica.
    02 - CEATIM (Centro de Equipamentos de Alta Tecnologia do Inmetro para uso Multiusuário)
      7522 CEATIM - Tribômetro Tribolab Bruker com módulo de ensaio de atrito em alta carga
      7523 CEATIM - Tribômetro UMT/UMNT CETR com módulo de ensaio de riscamento
      7524 CEATIM - Tribômetro UMT/UMNT CETR com módulo de ensaio de atrito
      7525 CEATIM - Perfilômetro PGI 830 Taylor Hobson


     

     


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