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| Acreditação Nº |
708 |
| Data da Acreditação |
18/10/2019 |
| ACREDITAÇÃO VIGENTE |
Clique aqui para mais informações. |
| Última Revisão do Escopo |
15/01/2025 |
| Razão Social |
Lifting Assistência Técnica Elétrica e Comercial Ltda. |
| Nome do Laboratório |
LIFTING |
| Situação |
Ativo |
| Endereço |
Rua Magalhães Bastos ,1.351 |
| Bairro |
Boa Vista |
| CEP |
24466250 |
| Cidade |
São Gonçalo |
| UF |
RJ |
| Telefone |
(21) 2109.6400 |
| Fax |
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ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO
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| Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
(Realizados em unidades móveis) |
MEDIDAS DE CORRENTE AC
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| Fonte de Corrente AC | 0,001mA até 100mA AC (60Hz) | 0,1% | | >0,1A até 1A AC (60Hz) | 0,1% | | >1A até 10A AC (60Hz) | 0,06% | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | | Medidor de Corrente AC | >0,33 mA até 330mA AC (60Hz) | 0,5% | | >0,33A até 1A AC (60Hz) | 0,5% | | >1A até 3A AC (60Hz) | 0,6% | | >3A até 20A AC (60Hz) | 0,8% | | >20A até 100A AC (60Hz) | 0,1% | | >100A até 500A AC (60Hz) | 0,2% | | >500A até 1000A AC (60Hz) | 0,3% | | Método de comparação direta com calibrador padrão | |
MEDIDAS DE CORRENTE DC
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| Fonte de Corrente DC | 0,1 mA até 1 mA | 0,09% | | > 1 mA até 400 mA | 0,1% | | > 0,4 A até 3 A | 0,12% | | > 3 A até 10 A | 0,5% | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | | Medidor de Corrente DC | > 0,33 mA até 330 mA | 0,1% | | > 0,33 A até 11 A | 0,5% | | > 11 A até 20 A | 0,6% | | > 20 A até 100 A | 0,1% | | > 100 A até 500 A | 0,2% | | > 500 A até 1000 A | 0,3% | | Método de comparação direta com calibrador padrão | |
MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE CONTÍNUA
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| Década Resistiva, em Corrente Contínua | 10 Ω até 1000 Ω | 0,005% | | > 1 MΩ até 10 MΩ | 0,005% | | > 10 MΩ até 100 MΩ | 0,05% | | > 100 MΩ até 1 GΩ | 0,01% | | Método de comparação direta com Multímetro padrão | | | Medidor de Resistência, em Corrente Contínua | 1Ω - 1000Ω | 0,04% | | >1KΩ - 100KΩ | 0,02% | | >100KΩ - 1MΩ | 0,02% | | >1MΩ - 10MΩ | 0,06% | | 19MΩ | 0,1% | | 100MΩ | 0,5% | | 190MΩ | 0,5% | | 1GΩ | 0,5% | | 10GΩ | 1% | | 18GΩ | 3% | | Método de comparação direta com Resistor padrão e calibrador | | | Resistor Padrão, em Corrente Contínua | 10 Ω até 1000 Ω | 0,01% | | > 1 kΩ até 100 kΩ | 0,01% | | > 1 MΩ até 10 MΩ | 0,01% | | > 10 MΩ até 100 MΩ | 0,05% | | Método de comparação direta com multímetro padrão | |
MEDIDAS DE TENSÃO AC
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| Fonte de Tensão AC | >0,1Vac até 1Vac (60Hz) | 0,05% | | >1Vac até 10Vac (60Hz) | 0,02% | | >10Vac até 100Vac (60Hz) | 0,08% | | >100Vac até 330Vac (60Hz) | 0,5% | | >330Vac até 1000Vac (60Hz) | 0,8% | | Método de comparação direta multímetro padrão | | | Medidor de Tensão AC | 33mVac até 330mVac (60Hz) | 0,5% | | >0,33Vac até 3,3Vac (60Hz) | 0,05% | | >3,3Vac até 33Vac (60Hz) | 0,02% | | >33Vac até 100Vac (60Hz) | 0,08% | | >100Vac até 330Vac (60Hz) | 0,5% | | >330Vac até 1000Vac (60Hz) | 0,8% | | Método de comparação direta com calibrador | |
MEDIDAS DE TENSÃO DC
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| Fonte de Tensão DC | > 0,1 V até 1 V | 0,005% | | > 1 V até 100 V | 0,006% | | > 100 V até 1000 V | 0,008% | | Método por comparação direta com multímetro padrão | | | Medidor de Tensão DC | > 33 mV até 330 mV | 0,5% | | > 0,33 V até 3,3 V | 0,08% | | > 3,3 V até 33 V | 0,06% | | > 33 V até 100 V | 0,07% | | > 100 V até 1000 V | 0,06% | | Método por comparação direta com calibrador padrão | |
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Observações:
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A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%.
Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
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A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
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O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.
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