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| Acreditação Nº |
53 |
| Data da Acreditação |
09/05/1994 |
| ACREDITAÇÃO VIGENTE |
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| Última Revisão do Escopo |
26/04/2022 |
| Razão Social |
BALITEK INSTRUMENTOS E SERVIÇOS LTDA. |
| Nome do Laboratório |
BALITEK INSTRUMENTOS E SERVIÇOS LTDA. |
| Situação |
Ativo |
| Endereço |
RUA PRÍNCIPE HUMBERTO, 349/355 |
| Bairro |
VILA DUZZI |
| CEP |
09725200 |
| Cidade |
S.BERNARDO DO CAMPO |
| UF |
SP |
| Telefone |
(11) 4121-2035 |
| Fax |
(11) 4121-2035 |
| Grupo de Serviço de Calibração |
ELETRICIDADE E MAGNETISMO |
| Gerente Técnico |
PAULO RODRIGO MIYAZAKI
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| Email |
tecnico@balitek.com.br
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ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO
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| Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
(Realizados nas instalações permanentes) |
MEDIDAS DE CORRENTE AC
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| Fonte de Corrente AC | 0,1 até 10 A (60 Hz) | *0,5% | | Método de comparação direta com medidor de corrente ou multímetro padrão | | | Medidor de Corrente AC | 50 µA até 330 µA | 2,47% | | >0,33 mA até < 330 mA | 0,15% | | 0,33 A até < 2,2 A | 0,30% | | 2,2 A até < 11 A | 0,28% | | 11 A até 20 A | *0,33% | | De 16,5 A até < 55 A | *1,1% | | De 55 A até < 150 A | *0,49% | | De 150 A até < 550 A | *0,33% | | De 550 A até 1000 A | *0,2% | | Método de comparação direta com fonte de corrente ou calibrador padrão | | | Método de comparação direta com fonte de corrente ou calibrador padrão e bobina amperimétrica | |
MEDIDAS DE CORRENTE DC
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| Fonte de Corrente DC | 1 µA até 100 µA | 0,04% | | >100 µA até 1 mA | 0,02% | | 2,5 mA até 10 A | 0,04% | | Método de comparação direta com medidor de corrente ou multímetro padrão | | | Medidor de Corrente DC | 0,02 mA até 3,3 mA | 0,3% | | >3,3 mA até 330 mA | 0,02% | | De 0,33 A até < 2,2 A | 0,05% | | De 2,2 A até 11 A | 0,1% | | De 11 A até 20 A | *0,15 % | | De 16,5 A até < 55 A | *1,1% | | De 55 A até < 150 A | *0,4 % | | De 150 A até < 550 A | *0,12 % | | De 550 A até 1000 A | *0,07% | | Método de comparação direta com fonte de corrente ou calibrador padrão | | | Método de comparação direta com fonte de corrente ou calibrador padrão e bobina amperimétrica
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MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE CONTÍNUA
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| Década Resistiva, em Corrente Contínua | 1 Ω até 10 Ω | 0,04% | | >10 Ω até 100 Ω | 0,02% | | >100 Ω até 10 kΩ | 0,01% | | >10 kΩ até 100 kΩ | 0,009% | | >100 kΩ até 1000 kΩ | 0,01% | | >1 MΩ até 10 MΩ | 0,2% | | >10 MΩ até 100 MΩ | 2% | | Método de comparação direta com medidor de resistência ou multímetro padrão | | | Medidor de Resistência, em Corrente Contínua | 1 Ω até 11 Ω | 0,1% | | >11 Ω até 33 Ω | 0,2% | | >33 Ω até 110 Ω | 0,06% | | >110 Ω até 1,1 kΩ | 0,03% | | >1,1 kΩ até 3,3 kΩ | 0,02% | | >3,3 kΩ até 11 kΩ | 0,03% | | >11 kΩ até 33 kΩ | 0,02% | | >33 kΩ até 110 kΩ | 0,03% | | >110 kΩ até 330 kΩ | 0,02% | | >330 kΩ até 1,1 MΩ | 0,04% | | >1,1 MΩ até 3,3 MΩ | 0,02% | | >3,3 MΩ até 33 MΩ | 0,1% | | >33 MΩ até 100 MΩ | 0,6% | | Método de comparação direta com década resistiva padrão | | | Método de comparação direta com calibrador padrão | |
MEDIDAS DE TENSÃO AC
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| Fonte de Tensão AC | 250 mV a 100 V | 0,5% | | >100 V a 1000 V | 0,7% | | Método de comparação direta com medidor de tensão ou multímetro padrão | | | Medidor de Tensão AC | >180 mV até 330 mV (60 Hz) | 0,27% | | >0,33 V até 3,3 V (60Hz) | 0,10% | | >3,3 V até 33V (60Hz) | 0,061% | | >33 V até 330 V (60Hz) | 0,19% | | >330 V até 1000V (60Hz) | 0,20% | | Método de comparação direta com fonte de tensão ou calibrador padrão | |
MEDIDAS DE TENSÃO DC
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| Fonte de Tensão DC | 10 mV até 100 mV | 0,04% | | >0,1 V até 1 V | 0,006% | | >1 V até 10 V | 0,004% | | >10 V até 100 V | 0,005% | | >100 V até 1000 V | 0,004% | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | | Medidor de Tensão DC | 10 mV até 330 mV | 0,04% | | >0,33 V até 33 V | 0,007% | | >33 V até 330 V | 0,008% | | >330 V até 1000 V | 0,007% | | Método de comparação direta com fonte de tensão ou calibrador padrão | |
(Realizados nas instalações do cliente) |
MEDIDAS DE CORRENTE DC
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| Fonte de Corrente DC | 2,5 mA até 10 A | 0,04 % | | Método de comparação direta com medidor de corrente ou multímetro padrão | | | 1 µA até 100 µA | * 0,04 % | | > 100 µA até 1 mA | * 0,02 % | | > 1 mA até 10 A | * 0,04 % | | Método de comparação direta com medidor de corrente ou multímetro padrão | | | Medidor de Corrente DC | 0,02 mA até 3,3 mA | * 0,3 % | | > 3,3 mA até 330 mA | * 0,02 % | | > 330 mA até 2,2 A | * 0,05 % | | > 2,2 A até 11 A | * 0,1 % | | Método de comparação direta com fonte de corrente ou calibrador padrão | |
MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE CONTÍNUA
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| Década Resistiva, em Corrente Contínua | 1 Ω até 10 Ω | * 0,04 % | | > 10 Ω até 100 Ω | * 0,02 % | | > 100 Ω até 10 kΩ | * 0,01 % | | > 10 kΩ até 100 kΩ | * 0,009 % | | > 100 kΩ até 1000 kΩ | * 0,01 % | | > 1 MΩ até 10 MΩ | * 0,2% | | > 10 MΩ até 100 MΩ | * 2 % | | Método de comparação direta com medidor de resistência ou multímetro padrão | | | Método de comparação direta com década resistiva padrão | | | Medidor de Resistência, em Corrente Contínua | 1 Ω até 11 Ω | * 0,1 % | | > 11 Ω até 33 Ω | * 0,2 % | | > 33 Ω até 110 Ω | * 0,06 % | | > 110 Ω até 1,1 kΩ | * 0,03 % | | > 1,1 kΩ até 3,3 kΩ | * 0,02 % | | > 3,3 kΩ até 11 kΩ | * 0,03 % | | > 11 kΩ até 33 kΩ | * 0,02 % | | > 33 kΩ até 110 kΩ | * 0,03 % | | Método de comparação direta com calibrador | |
MEDIDAS DE TENSÃO AC
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| Medidor de Tensão AC | >180 mV até 330 mV (60Hz) | 0,27% | | >0,33 V até 3,3 V (60Hz) | 0,10% | | >3,3 V até 33V (60Hz) | 0,061% | | >33 V até 330 V (60Hz) | 0,19% | | >330 V até 1000V (60Hz) | 0,20% | | Método de comparação direta com fonte de Tensão ou calibrador padrão | |
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Observações:
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A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%.
Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
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A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
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O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.
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