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Acreditação Nº |
515 |
Data da Acreditação |
28/09/2012 |
ACREDITAÇÃO VIGENTE |
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Última Revisão do Escopo |
05/02/2024 |
Razão Social |
MMG Soluções em Metrologia Ltda |
Nome do Laboratório |
Laboratório Metrominas |
Situação |
Ativo |
Endereço |
Rua Caviúna, 170 |
Bairro |
Horto |
CEP |
35160295 |
Cidade |
Ipatinga |
UF |
MG |
Telefone |
(31) 3821.6370 |
Fax |
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ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO
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Descrição do Serviço |
Parâmetro, Faixa e Método |
Capacidade de Medição e Calibração (CMC) |
(Realizados nas instalações permanentes) |
MEDIDAS DE CORRENTE AC
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Fonte de Corrente AC | 10 µA até 200 µA - 55 Hz até 65 Hz | 0,03 % + 0,03 µA | | > 0,2 mA até 2 mA - 55 Hz até 65 Hz | 0,030 % + 0,0003 mA | | > 2 mA até 20 mA - 55 Hz até 65 Hz | 0,030 % + 0,003 mA | | > 20 mA até 200 mA - 55 Hz até 65 Hz | 0,030 % + 0,03 mA | | > 0,2 A até 2 A - 55 Hz até 65 Hz | 0,070 % + 0,0003 A | | > 2 A até 20 A - 55 Hz até 65 Hz | 0,1% + 0,004 A | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | Medidor de Corrente AC | 30 µA até 200 µA - 55 Hz até 65 Hz | 0,03 % + 0,03 µA | | > 0,2 mA até 2 mA - 55 Hz até 65 Hz | 0,03 % + 0,0003 mA | | > 2 mA até 20 mA - 55 Hz a 65 Hz | 0,03 % + 0,003 mA | | > 20 mA até 200 mA - 55Hz a 65Hz | 0,03 % + 0,03 mA | | > 0,2 A até 2 A - 55 Hz até 65 Hz | 0,070 % + 0,0003A | | > 2 A até 20 A - 55 Hz até 65 Hz | 0,1 % + 0,004 A | | > 20 A até 150 A - 60 Hz | 1,4 % + 0,2 A | | > 150 A até 1000A - 60Hz | 0,5 % + 3,5 A | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | | Método de comparação direta com calibrador padrão e bobina amperimétrica | |
MEDIDAS DE CORRENTE DC
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Fonte de Corrente DC | 1 µA até 200 µA - 55 Hz até 65 Hz | 0,001 % + 0,0005 µA | | > 0,2 mA até 2 mA - 55 Hz até 65 Hz | 0,0008 % + 0,000007 mA | | > 2mA até 20 mA - 55 Hz até 65 Hz | 0,002 % + 0,00007 mA | | > 20 mA até 200 mA - 55 Hz até 65 Hz | 0,004 % + 0,003 mA | | > 0,2 A até 2 A - 55 Hz até 65 Hz | 0,020 % + 0,00003 A | | > 2 A até 20 A - 55 Hz até 65 Hz | 0,05% + 0,0007 A | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | Medidor de Corrente DC | 1 µA até 200 µA | 0,001 % + 0,0005 µA | | 0,2 mA até 2 mA | 0,0008 % + 0,000007 mA | | > 2 mA até 20 mA | 0,002 % + 0,00007 mA | | > 20 mA até 200 mA | 0,004 % + 0,003 mA | | > 0,2 A até 2 A | 0,02 % + 0,00003 A | | > 2 A até 20 A | 0,05 % + 0,0007 A | | > 20 A até 150 A | 0,1 % + 0,1 A | | > 150 A até 1000 A | 0,6 % + 1,8 A | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | | Método de comparação direta com calibrador padrão e bobina amperimétrica | |
MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE CONTÍNUA
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Década Resistiva, em Corrente Contínua | 0,001 Ω até 2 Ω | 0,002 % + 0,000005 Ω | | > 2 Ω até 20 Ω | 0,0009 % + 0,00003 Ω | | > 20 Ω até 200 Ω | 0,0009 % + 0,0001 Ω | | > 0,2 kΩ até 2 kΩ | 0,0008 % + 0,000002 kΩ | | > 2 kΩ até 20 kΩ | 0,0009 % + 0,00001 kΩ | | > 20 kΩ até 200 kΩ | 0,00092 % + 0,00004 kΩ | | > 0,2 MΩ até 2 MΩ | 0,002 % + 0,000002 MΩ | | > 2 MΩ até 20 MΩ | 0,001 % + 0,0002 MΩ | | > 20 MΩ até 200 MΩ | 0,0009 % + 0,002 MΩ | | 0,2 GΩ até 2GΩ | 0,004% + 0,0002 GΩ | | > 2 GΩ até 19 GΩ | 0,07% + 0,02 GΩ | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | Medidor de Resistência, em Corrente Contínua | 0,001 Ω até 2 Ω | 0,002 % + 0,00000 Ω | | > 2 Ω até 20 Ω | 0,0009 % + 0,00003 Ω | | > 20 Ω até 200 Ω | 0,0009 % + 0,0001 Ω | | > 0,2 kΩ até 2 kΩ | 0,0008 % + 0,000002 kΩ | | > 2 kΩ até 20 kΩ | 0,0009% + 0,00001 kΩ | | > 20 kΩ até 200 kΩ | 0,002 % + 0,0003 kΩ | | > 0,2 MΩ até 2 MΩ | 0,002 % + 0,000002 MΩ | | > 2 MΩ até 20 MΩ | 0,001 % + 0,0002 MΩ | | > 20 MΩ até 200 MΩ | 0,0009% + 0,002 MΩ | | > 0,2 GΩ até 2 GΩ | 0,004% + 0,0002 GΩ | | > 2 GΩ até 19 GΩ | 0,07% + 0,02 GΩ | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | Resistor Padrão, em Corrente Contínua | 0,001 Ω até 2 Ω | 0,002 % + 0,000005 Ω | | > 2 Ω até 20 Ω | 0,0009 % + 0,00003 Ω | | > 20 Ω até 200 Ω | 0,0009 % + 0,0001 Ω | | > 0,2 kΩ até 2 kΩ | 0,0008 % + 0,000002 kΩ | | > 2 kΩ até 20 kΩ | 0,0009 % + 0,00001 kΩ | | > 20 kΩ até 200 kΩ | 0,002 % + 0,0003 kΩ | | > 0,2 MΩ até 2 MΩ | 0,002 % + 0,000002 MΩ | | > 2 MΩ até 20 MΩ | 0,001% + 0,0002 MΩ | | > 20 MΩ até 200 MΩ | 0,0009 % + 0,002 MΩ | | > 0,2 GΩ até 2 GΩ | 0,004 % + 0,0002 GΩ | | > 2GΩ até 19 GΩ | 0,060 % + 0,03 GΩ | | Método de comparação direta com multímetro padrão | |
MEDIDAS DE TENSÃO AC
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Fonte de Tensão AC | 2 mV até 200 mV - 55 Hz até 65 Hz | 0,012 % + 0,006mV | | > 0,2 V até 2 V - 55 Hz até 65 Hz | 0,01 % + 0,00004 V | | > 2 V até 20 V - 55 Hz até 65 Hz | 0,0094 % + 0,0004 V | | > 20 V até 200 V - 55 Hz até 65 Hz | 0,009 % + 0,005 V | | > 200 V até 1000 V - 55 Hz até 65 Hz | 0,01 % + 0,04 V | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | Medidor de Tensão AC | 2 mV até 200 mV - 55 Hz até 65 Hz | 0,02 % + 0,008 mV | | > 0,2 V até 2 V - 55 Hz até 65 Hz | 0,01% + 0,00004 V | | > 2 V até 20 V - 55 Hz até 65 Hz | 0,009 % + 0,0004 V | | > 20 V até 200 V - 55 Hz até 65 Hz | 0,009 % + 0,005 V | | > 200 V até 1000 V - 55 Hz até 65 Hz | 0,01 % + 0,04 V | | Método de comparação direta com multímetro padrão | |
MEDIDAS DE TENSÃO DC
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Fonte de Tensão DC | 0,03 mV até 200 mV | 0,0004 % + 0,0002 mV | | > 0,2 V até 2 V | 0,0004 % + 0,0000008 V | | > 2 V até 20 V | 0,0004 % + 0,000005 V | | > 20 V até 200 V | 0,0005 % + 0,0002 V | | > 200 V até 1000 V | 0,0005 % + 0,001 V | | Método de comparação direta com multímetro padrão | | Medidor de Tensão DC | 0,03 mV a 200 mV | 0,0004 % + 0,0002 mV | | > 0,2 V até 2 V | 0,0004 % + 0,0000008 V | | > 2 V até 20 V | 0,0004 % + 0,000005 V | | > 20 V até 200 V | 0,0005 % + 0,0002 V | | > 200 V até 1000 V | 0,0005 % + 0,001 V | | Método de comparação direta com multímetro padrão | |
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Observações:
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A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%.
Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
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A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
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O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.
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