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Acreditação Nº 439
Data da Acreditação 10/08/2009
ACREDITAÇÃO VIGENTE Clique aqui para mais informações.
Última Revisão do Escopo 21/03/2023
Razão Social Elus Serviços de Instrumentação Ltda
Nome do Laboratório ELUS Instrumentação
Situação Ativo
Endereço Avenida Doutor Assis Ribeiro, 10.098
Bairro Vila Jacuí
CEP 03827001
Cidade São Paulo
UF SP
Telefone (11) 2214.9069
Fax (11) 2214.0049

Grupo de Serviço de Calibração ELETRICIDADE E MAGNETISMO
Gerente Técnico Rodrigo Gomes Cordeiro
Email rodrigo@elusinstrumentacao.com.br

ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO


Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)

(Realizados nas instalações permanentes)

MEDIDAS DE CAPACITÂNCIA
Capacitor1 pF até 10 pF (1 kHz) *0,2 pF até 0,21 pF
> 10 pF até 100 pF (1 kHz) *0,21 pF até 0,32 pF
> 100 pF até 1.000 pF (1 kHz) *0,32 nF até 0,95 pF
> 1 nF até 10 nF (1 kHz) *0,95 pF até 8,3 pF
> 10 nF até 100 nF (1 kHz) *8,3 pF até 0,082 nF
> 100 nF até 1 µF (1 kHz) *0,082 nF até 0,91 nF
> 1 µF até 10 µF (1 kHz) *0,91 nF até 9 nF
> 10 µF até 100 µF (1 kHz) *9 nF até 0,22 µF
Método de comparação direta com medidor de capacitância padrão
Década Capacitiva1 pF até 10 pF (1 kHz) *0,2 pF até 0,21 pF
> 10 pF até 100 pF (1 kHz) *0,21 pF até 0,32 pF
> 100 pF até 1000 pF (1 kHz) *0,32 pF até 0,95 pF
> 1 nF até 10 nF (1 kHz) *0,95 pF até 8,3 pF
> 10 nF até 100 nF (1 kHz) *8,3 pF até 0,082 nF
> 100 nF até 1 µF (1 kHz) *0,082 nF até 0,91 nF
> 1 µF até 10µF (1 kHz) *0,91 nF até 9 nF
> 10 µF até 100 µF (1 kHz) *9 nF até 0,22 µF
Método de comparação direta com medidor de capacitância padrão
Medidor de Capacitância220 pF até 1000 pF (1 kHz) *0,44 pF até 0,95 pF
> 1 nF até 10nF (1 kHz) *1,1 pF até 8,3 pF
> 10 nF até 100 nF (1 kHz) *8,3 pF até 0,082 nF
> 100 nF até 1 µF (1 kHz) *0,082 nF até 0,91 nF
> 1 µF até 10 µF (1 kHz) *0,91 nF até 9 nF
> 10 µF até 100 µF (1 kHz) *9 nF até 0,22 µF
0,33 µF até 1,1 µF (100 Hz) *2,1 pF até 7,9 pF
> 1,1 µF até 3,3 µF (100 Hz) *7,9 pF até 0,021 µF
> 3,3µF até 11 µF (100 Hz) *0,021 µF até 0,041 µF
> 11 µF até 110µF (100 Hz) *0,041 µF até 0,64 µF
Método de comparação direta com medidor de capacitância padrão
Método de comparação direta com calibrador

MEDIDAS DE CORRENTE AC
Fonte de Corrente AC10 µA até 200 µA ( 50 Hz ) *0,029 µA até 0,14 µA
10 µA até 200 µA ( 60 Hz ) *0,029 µA até 0,14 µA
> 200 µA até 2 mA ( 60 Hz ) *0,14 µA até 0,89 µA
> 2 mA até 20 mA ( 60 Hz ) *0,89 µA até 8,9 µA
> 20 mA até 200 mA ( 60 Hz ) *8,9 µA até 0,087 mA
> 200 mA até 2 A ( 60 Hz ) *0,087 mA até 1,6 mA
> 2 A até 20 A ( 60 Hz ) *1,6 mA até 22 mA
Método de comparação direta com medidor de corrente ou multímetro padrão
Medidor de Corrente AC10 µA até 200 µA (50 Hz) *0,029 µA até 0,14 µA
10 µA até 200 µA ( 60 Hz ) *0,029 µA até 0,14 µA
> 200 µA até 2 mA ( 60 Hz ) *0,14 µA até 0,89 µA
> 2 mA até 20 mA ( 60 Hz ) *0,89 µA até 8,9 µA
> 20 mA até 200 mA ( 60 Hz ) *8,9 µA até 0,087 mA
> 200 mA até 2 A ( 60 Hz ) *0,087 mA até 1,6 mA
> 2 A até 20 A ( 60 Hz ) *1,6 mA até 22 mA
> 20 A até 200 A ( 60 Hz ) *140 mA até 0,8 A
> 200 A até 1000 A ( 60 Hz ) *0,8 A até 5,3 A
Método de comparação com medidor de corrente ou multímetro padrão
Método de comparação direta com fonte de corrente ou calibrador padrão e bobina amperimétrica

MEDIDAS DE CORRENTE DC
Fonte de Corrente DC10 nA até 200 µA *0,46 nA até 3,4 nA
> 200 µA até 2 mA *3,4 nA até 0,033 µA
> 2 mA até 20 mA *0,033 µA até 0,37 µA
> 20 mA até 200 mA *0,37 µA até 12 µA
> 200 mA até 2 A *0,012 mA até 0,43 mA
> 2 A até 20 A *0,43 mA até 9,8 mA
Método de comparação direta com medidor de corrente ou multímetro padrão
Medidor de Corrente DC10 nA até 200 µA *0,46 nA até 3,4 nA
> 200 µA até 2 mA *3,4 nA até 0,033 µA
> 2 mA até 20 mA *0,033µA até 0,37 µA
> 20 mA até 200 mA *0,37 µA até 12 µA
> 200 mA até 2 A *0,012 mA até 0,43 mA
> 2 A até 20 A *0,43 mA até 9,8 mA
> 20 A até 200 A *9,8 mA até 0,54 A
> 200 A até 1000 A *0,54 A até 3,4 A
Método de comparação com medidor de corrente ou multímetro padrão
Método de comparação direta com fonte de corrente ou calibrador padrão e bobina amperimétrica

MEDIDAS DE INDUTÂNCIA
Década Indutiva100 µH até < 1000 µH (1 kHz) *0,35 µH até 1,1 µH
1 mH até < 10 mH (1 kHz) *0,0011 mH até 0,0094 mH
10 mH até < 100 mH (1 kHz) *0,0094 mH até 0,091 mH
100 mH até < 1000 mH (1 kHz) *0,091 mH até 0,97 mH
1 H até < 10 H (1 kHz) *0,97 mH até 0,011 H
Método de comparação direta com medidor LCR padrão.
Indutor100 µH até < 1000 µH (1 kHz) *0,35 µH até 1,1 µH
1 mH até < 10 mH (1 kHz) *0,0011 mH até 0,0094 mH
10 mH até < 100 mH (1 kHz) *0,0094 mH até 0,091 mH
100 mH até < 1000 mH (1 kHz) *0,091 mH até 0,97 mH
1 H até < 10 H (1 kHz) *0,97 mH até 0,011 H
Método de comparação direta com medidor LCR padrão
Medidor de Indutância100 µH até 1 mH ( 1 kHz ) *0,37 µH até 1,5 µH
> 1 mH até 10 mH ( 1 kHz ) *1,5 µH até 8,4 µH
> 10 mH até 100 mH (1 kHz) *8,4 µH até 89 µH
> 100 mH até 1111 mH (1 kHz) *89 µH até 0,84 mH
Método de comparação direta com medidor indutância padrão
Método de comparação direta com década indutiva

MEDIDAS DE POTÊNCIA AC
Medidor de cosF.P. = 0 a 1 (Indutivo/Capacitivo)
(-90º até 0º - Indutivo)
(0º até 90º - Capacitivo) *0,0010 até 0,0021
120 V / 1 A (60 Hz)
300 V / 10 A (60Hz)
Método de comparação direta com gerador de cos padrão
Medidor de Ângulo de FaseF.P. = 0 a 1 (Indutivo/Capacitivo)
(-90º até 0º - Indutivo)
(0º até 90º - Capacitivo) *0,12º
120 V / 1 A (60 Hz)
300 V / 10 A (60Hz)
Método de comparação direta com gerador de ângulo padrão
Medidor de Potência Ativa30 V até 600 V *0,0083 W até 42 W
0,32 A até 1000 A (60 Hz)
Método de comparação direta com fonte ou calibrador de potência padrão

MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE ALTERNADA
Década Resistiva, em Corrente Alternada10 Ω a < 100 Ω (1 kHz) *0,01 Ω até 0,092 Ω
100 Ω a < 1000 Ω (1 kHz) *0,092 Ω até 0,92 Ω
1 kΩ a < 10 kΩ (1 kHz) *0,00092 kΩ até 0,016 kΩ
10 kΩ a < 100 kΩ (1 kHz) *0,016 kΩ até 0,17 kΩ
Método de comparação direta com medidor LCR padrão
Medidor de Resistência, em Corrente Alternada10 Ω a < 100 Ω (1 kHz) *0,01 Ω até 0,092 Ω
100 Ω a < 1000 Ω (1 kHz) *0,092 Ω até 0,92 Ω
1 kΩ a < 10 kΩ (1 kHz) *0,00092 kΩ até 0,016 kΩ
10 kΩ a < 100 kΩ (1 kHz) *0,016 kΩ até 0,17 kΩ
Método de comparação com medidor LCR padrão.
Resistor Padrão, em Corrente Alternada10 Ω a < 100 Ω (1 kHz) *0,01 Ω até 0,092 Ω
100 Ω a < 1000 Ω (1 kHz) *0,092 Ω até 0,92 Ω
1 kΩ a < 10 kΩ (1 kHz) *0,00092 kΩ até 0,016 kΩ
10 kΩ a < 100 kΩ (1 kHz) *0,016 kΩ até 0,17 kΩ
Método de comparação direta com medidor LCR padrão.

MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE CONTÍNUA
Década Resistiva, em Corrente Contínua1 mΩ até 2 Ω *4,6 µΩ até 0,045 mΩ
> 2 Ω até 20 Ω *0,045 mΩ até 0,31 mΩ
> 20 Ω até 200 Ω *0,31 mΩ até 2,7 mΩ
> 200 Ω até 2 kΩ *2,7 mΩ até 0,026 Ω
> 2 kΩ até 20 kΩ *0,026 Ω até 0,25 Ω
> 20 kΩ até 200 kΩ *0,25 Ω até 2,5 Ω
> 200 kΩ até 2 MΩ *2,5 Ω até 31 Ω
> 2 MΩ até 20 MΩ *31 kΩ até 0,073 kΩ
> 20 MΩ até 200 MΩ *0,073 kΩ até 0,041 MΩ
> 200 MΩ até 2 GΩ *0,041 MΩ até 4,7 MΩ
> 2 GΩ até 20 GΩ *0,015 GΩ até 0,047 GΩ
Método de comparação direta com medidor de resistência ou multímetro padrão
Método de comparação com ponte de resistência
Medidor de Resistência, em Corrente Contínua1 mΩ até 2 Ω *4,6 µΩ até 0,045 mΩ
> 2 Ω até 20 Ω *0,045 mΩ até 0,31 mΩ
> 20 Ω até 200 Ω *0,31 mΩ até 2,7 mΩ
> 200 Ω até 2 kΩ *2,7 mΩ até 0,026 Ω
> 2 kΩ até 20 kΩ *0,026 Ω até 0,25 Ω
> 20 kΩ até 200 kΩ *0,25 Ω até 2,5 Ω
> 200 kΩ até 2 MΩ *2,5 Ω até 31 Ω
> 2 MΩ até 20 MΩ *31 Ω até 0,073 kΩ
> 20 MΩ até 200 MΩ *0,073 kΩ até 0,041 MΩ
> 200 MΩ até 2 GΩ *0,041 MΩ até 4,7 MΩ
> 2 GΩ até 20 GΩ *4,7 MΩ até 0,047 GΩ
> 20 GΩ até 100 GΩ *0,047 GΩ até 1,1 GΩ
> 100 GΩ até 1 TΩ *3,7 GΩ até 0,022 TΩ
Método de comparação direta com medidor de resistência ou multímetro padrão
Método de comparação direta com calibrador
Resistor Padrão, em Corrente Contínua1 mΩ até 2 Ω *4,6 µΩ até 0,045 mΩ
> 2 Ω até 20 Ω *0,045 mΩ até 0,31 mΩ
> 20 Ω até 200 Ω *0,31 mΩ até 2,7 mΩ
> 200 Ω até 2 kΩ *2,7 mΩ até 0,026 Ω
> 2 kΩ até 20 kΩ *0,026 Ω até 0,25 Ω
> 20 kΩ até 200 kΩ *0,25 Ω até 2,5 Ω
> 200 kΩ até 2 MΩ *2,5 Ω até 31 Ω
> 2 MΩ até 20 MΩ *31 Ω até 0,073 kΩ
> 20 MΩ até 200 MΩ *0,073 kΩ até 0,041 MΩ
> 20 MΩ até 2 GΩ *0,041 MΩ até 4,7 MΩ
> 2 GΩ até 20 GΩ *0,015 GΩ até 0,047 GΩ
Método de comparação direta com medidor de resistência ou multímetro padrão
Método de comparação com ponte de resistência

MEDIDAS DE TENSÃO AC
Fonte de Tensão AC2 mV até 200 mV (50 Hz) *5,2 µV até 32 µV
2 mV até 200 mV (60 Hz) *5,2 µV até 53 µV
> 200 mV até 2 V (60 Hz) *0,053 mV até 0,23 mV
> 2 V até 20 V (60 Hz) *0,23 mV até 2,3 mV
> 20 V até 200 V (60 Hz) *2,3 mV até 23 mV
> 200 V até 10000 V (60 Hz) *0,023 V até 0,42 V
Método de comparação direta com medidor de tensão ou multímetro padrão
Medidor de Tensão AC2 mV até 200 mV (50 Hz) *5,1 µV até 32 µV
2 mV até 200 mV (60 Hz) *5,2 µV até 53 µV
> 200 mV até 2 V (60 Hz) *0,053 mV até 0,23 mV
> 2 V até 20 V (60 Hz) *0,23 mV até 2,3 mV
> 20 V até 200V (60 Hz) *2,3 mV até 23 mV
> 200 V até 1000 V (60 Hz) *0,023 V até 0,42 V
Método de comparação com medidor de tensão ou multímetro padrão.

MEDIDAS DE TENSÃO DC
Fonte de Tensão DC0,03 mV até 200 mV *0,68 µV até 1,9 µV
> 200 mV até 2 V *1,9 µV até 9,8 µV
> 2 V até 20 V *9,8 µV até 94 µV
> 20 V até 200 V *0,094 mV até 1,4 mV
> 200 V até 10000 V *1,4 mV até 7,4 mV
Método de comparação direta com medidor de tensão ou multímetro padrão
Medidor de Tensão DC0,03 mV até 200 mV *0,68 µV até 1,9 µV
> 200 mV até 2 V *1,9 µV até 9,8 µV
> 2 V até 20 V *9,8 µV até 94 µV
> 20 V até 200 V *0,094 mV até 1,4 mV
> 200 V até 1000 V *1,4 mV até 7,4 mV
Método de comparação direta com medidor de tensão ou multímetro padrão



Observações:

  1. A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%. Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
  2. A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
  3. O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.