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Acreditação Nº 88
Data da Acreditação 11/08/1997
ACREDITAÇÃO VIGENTE Clique aqui para mais informações.
Última Revisão do Escopo 17/06/2024
Razão Social Centro Tecnológico de Metrologia Comércio de Instrumentos e Serviços Ltda. - CTM
Nome do Laboratório Centro Tecnológico de Metrologia
Situação Ativo
Endereço Rua Luis José Junqueira Freire, 375
Bairro Vila Penteado
CEP 02864000
Cidade São Paulo
UF SP
Telefone (11) 3851-9001
Fax (11) 3851-4709

Grupo de Serviço de Calibração DIMENSIONAL
Gerente Técnico Ademir Correia
Email calibracao@calibracao.com.br

ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO


Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)

(Realizados nas instalações permanentes)

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE ÂNGULO
Gabarito de ÂngulosAté 360° 0,045°
Método de medição com Máquina de medir coordenadas ou projetor de Perfil ou Inclinômetro digital
GoniômetroAté 360° 3'
Paralelismo da régua 1,15 µm
Método de comparação com régua/mesa de seno
Método de medição em projetor de perfil ou máquina de medição por coordenadas
Nível de BolhaAté 30 mm/m 0,013 mm/m*
Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um sistema gerador de pequenos deslocamentos (régua/mesa de seno) com
uma base de apoio de comprimento conhecido
Nível EletrônicoAté 30 mm/m 0,01 mm/m*
Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um sistema gerador de pequenos deslocamentos (régua/mesa de seno) com
uma base de apoio de comprimento conhecido
Nível Goniométrico4 Quadrantes até 65 ° 3'
Método de comparação com o ângulo de referência gerado pela mesa ou régua de seno contra o ângulo indicado pelo nível goniométrico

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Apalpador EletrônicoAté 2 mm 0,4 µm*
Método de comparação com calibrador de relógios
Método de comparação com máquina de medição linear
Calibrador de Relógio Comparador / ApalpadorAté 70 mm 0,6 µm
> 70 mm até 90 mm 0,7 µm
> 90 mm até 100 mm 0,8 µm
Método por comparação com máquina de medição linear
Comparador de DeslocamentoAté 10 mm 0,4 µm*
> 10 até 100 mm 0,7 µm*
Método de comparação com calibrador de relógios
Método de comparação com máquina de medição linear
Comparador de Diâmetros InternosCurso
Até 1,1 mm 0,7 µm*
Método de comparação com calibrador de relógios, máquina de medição linear ou micrômetro externo
ExtensômetroAté 50 mm 0,5 µm
> 50 mm até 100 mm 0,6 µm
Método de comparação com máquina de medição linear.
Método de comparação com tambor micrométrico
Gabarito de FolgaAté 2 mm *0,0005 mm
Método de medição com máquina de medição linear
Método de medição com micrômetro externo milesimal
Gabarito de RaioAté 14 mm 3,6 µm
> 14 mm até 50 mm 2,4 µm
> 50 mm até 200 mm 2,8 µm
Método de medição com projetor de perfil, máquina medição por coordenadas ou Tela Calibrada (Carta de raios)
Medidor de AlturaAté 200 mm (0,8 +L/354) µm
> 200 até 1000 mm (1,2 +L/400) µm
Método de comparação com blocos padrão sobre desempeno de granito utilizando um relógio apalpador para zeragem
Medidor de Espessura com Relógio ComparadorAté 10 mm 0,001 mm*
> 10 mm até 100 mm 0,003 mm*
Método de comparação com blocos padrão
Medidor de Espessura de Camada de Tinta SecaAté 10 mm [1+(L/20)] µm, L em mm
Método de comparação com padrão de espessura para camada de tinta seca
Micrômetro de ProfundidadeAté 100 mm 0,0006 mm*
> 100 mm até 300 mm 0,0011 mm*
> 300 mm até 500 mm 0,0013 mm*
> 500 mm até 1000 mm 0,0022 mm*
Método de comparação com blocos padrão
Micrômetro Externoaté 500 mm 1,3 µm
> 500 até 1000 mm (L/380) µm
Método de comparação com blocos padrão, plano óptico e paralelo óptico
ABNT NBR NM ISO 3611:1997
Micrômetro Interno de 2 pontas2 mm até 300 mm *0,003 mm
Método de calibração com máquina de medição linear
Método de calibração por comparação com bloco padrão
Micrômetro Interno de 3 pontas5 mm até 140 mm *0,003 mm
Método de comparação com anel liso cilíndrico
PaquímetroAté 500 10 µm
> 500 até 1500 (6 +L/247) µm
Método de comparação com blocos padrão
Método de comparação com anel padrão
ABNT NBR NM 216
JIS B 7507:1993
Peneira GranulométricaAbertura
> 125 mm até 300 mm 19 µm
Até 1 mm 4 µm
> 1 mm até 20 mm 10 µm
> 20 mm até 125 mm 19 µm
> 8 mm até 30 mm (*) 19 µm
Diâmetro do fio
Até 2,8 mm 4 µm
> 2,8 mm até 3,15 mm 10 µm
> 3,15 mm até 8 mm 19 µm
Método de medição de aberturas e diâmetros de fios com projetor de perfil ou paquímetro
Régua GraduadaAté 50 mm 0,007 mm
> 50 mm até 1000 mm 0,015 mm
> 1000 mm até 2000 mm 0,22 mm
Método de medição da distância entre traços, por comparação à régua graduada utilizando lupa de medição; Projetor de Perfil ou Escala padrão digital
Relógio ApalpadorAté 5 mm *0,0010 mm
Método de comparação com calibrador de relógios
Método de comparação com máquina de medição linear
Relógio ComparadorAté 100 mm *0,0010 mm
Método de comparação com calibrador de relógios
Método de comparação com máquina de medição linear
Tambor MicrométricoAté 70 mm 0,6 µm
> 70 mm até 90 mm 0,7 µm
> 90 mm até 100 mm 0,8 µm
Método por comparação com máquina de medição linear
Transdutor de Deslocamento0 até 500 mm 2 µm
> 500 até 800 mm 3 µm
> 800 até 1000 mm 4 µm
Método de calibração com bloco padrão ou calibrador de relógio ou máquina de medição linear ou máquina de medição tridimensional
TrenaAté 50000 mm [0,20 + (L / 25000)] mm, L em mm
Método de medição da distância entre traços, por comparação à régua graduada ou trena padrão utilizando lupa de medição
Método de comparação com escala padrão digital
Trena a LaserAté 10000 mm 0,30 mm
Método de comparação com trena padrão

MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
Máquina para Medição de RugosidadeAté 2,95 µm (Ra) 4,1 %
Até 9,5 µm (Rz) 4,5 %
Método de comparação com padrão de rugosidade
MicroscópioDeslocamento
Até 50 mm 2 µm
> 50 mm até 300 mm 3 µm
Escala angular
Até 360° 2'
Ampliação
Até 10X 0,01%
> 10X até 50X 0,05%
> 50X até 100X 0,09%
Valor de uma divisão do retículo em função da ampliação da objetiva até 100X 2 µm
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular
Projetor de PerfilDeslocamento
Até 50 mm 2 µm
> 50 mm até 300 mm 3 µm
Escala angular
Até 360° 2'
Ampliação
Até 10X 0,01%
> 10X até 50X 0,05%
> 50X até 100X 0,09%
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular
Sistema de Medição Óptico TridimensionalDeslocamento óptico
Até 50 mm 3 µm
> 50 mm até 300 mm 4 µm
Deslocamento por apalpação
Até 500 mm 3 µm
Medição por foco
Até 500 mm 3 µm
Escala angular
Até 360° 2'
Perpendicularidade 3 µm
Erro de apalpamento
Até 50 mm 3 µm
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com bloco padrão
Método de comparação com anel padrão

MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças DiversasAté 500 mm 6 µm
Retitude, Planeza, Posição de um elemento, Coaxialidade, Paralelismo, Circularidade, Cilindricidade, Concentricidade e Perpendicularidade e Inclinação
Método de medição com Máquina de medir coordenadas ou máquina de medição linear ou projetor de perfil ou micrômetro milesimal ou
medidor de altura ou régua de seno
Medição de Rugosidade em Peças Diversas e ComponentesRa - 0,4 µm até 3,04 µm 0,09 µm
Rz - 1,27 µm até 10,66 µm 0,37 µm
Método de medição com rugosímetro
Medições Lineares em Peças Diversas e ComponentesAté 500 mm 1 µm
> 500 até 600 mm 0,02 mm
> 600 até 2000 mm 1,6 mm
Método de medição com Projetor de Perfil; Paquímetro; Máquina de medição tridimensional; Máquina de medição linear; Medidor de alturas;
Relógio comparador; Relógio apalpador; Micrômetro externo; Comparador eletrônico de deslocamento; transdutor de deslocamento;
Indicador de posição; Régua graduada; Trena.

PADRÕES DE COMPRIMENTO
Arame para Medição de RoscasAté 10 mm *0,5 µm
Método de medição com máquina de medição linear
Bloco PadrãoAté 100 mm 0,4 µm
> 100 mm até 500 mm 0,9 µm
Método de comparação com bloco padrão utilizando máquina de medição linear
Calibrador Anel Liso CilíndricoDiâmetro 1 mm até 200 mm (0,7 + L/380) µm
Método de medição com máquina de medição linear
Método de medição com máquina de medir coordenadas
Calibrador de Boca5 mm até 160 mm 0,001 mm
> 160 mm até 500 mm 0,007 mm
Método de medição com máquina de medição linear ou máquina de medir coordenadas
Calibrador Tampão Liso Cilíndrico0,2 mm até 50 mm *0,5µm
>50 mm até 200 mm *(0,8 + L/1000) µm
Método de medição com máquina de medição linear
Esfera PadrãoAté 50 mm 0,4 µm
Método de medição com máquina de medição linear ou micrômetro milesimal
Haste Padrão25 até 500 mm (0,94 + L/350) µm
Método de medição com máquina de medição linear e bloco padrão
Padrão de Espessura para Medidas de Espessura de Camada de Tinta SecaAté 1 mm 1,1 µm*
> 1 mm até 6 mm 1,3 µm*
> 6 mm até 10 mm 1,6 µm*
Método de medição com máquina de medição linear

PADRÕES DE ÂNGULO
EsquadroAté 500 mm 3,3 µm
Método medição em máquinas de medição por coordenadas utilizando-se o método da reversão
Método de medição com relógio apalpador; comparador ou comparador eletrônico de deslocamento

PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
Desempeno300 mm até 500 mm 3 µm
Determinação do erro de planeza por comparação com nível eletrônico ou nível de precisão de bolha

PADRÕES DE RUGOSIDADE
Padrão de RugosidadeRa - 0,4 µm até 3,04 µm 0,09 µm
Rz - 1,27 µm até 10,66 µm 0,37 µm
Método de medição com rugosímetro

PADRÕES E GABARITOS PARA ROSCA
Calibrador Anel Roscado Cilíndrico5 mm até 200 mm *0,003 mm
Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico em máquina de medição linear (método das duas ou três esferas)
Calibrador Tampão Roscado Cilíndrico1 mm até 200 mm *0,002 mm
Método de medição com máquina de medição linear utilizando pares de arames duplos e simples
Calibrador Tampão Roscado CônicoAté 200 mm
Diâmetro dos flancos 4 µm
Passo de rosca 2 µm
Semi-ângulo entre flancos
Semi-ângulo do cone
Método de medição com máquina de medição linear utilizando pares de arames duplos e simples
Medição de ângulos de flanco com projetor de perfil
Gabarito de RoscasPasso até 50 mm 0,0035 mm
Ângulo até 120 ° 3'
Método de medição em projetor de perfil

(Realizados nas instalações do cliente)

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE ÂNGULO
Gabarito de ÂngulosAté 360° 0,110°
Método de medição com Inclinômetro digital ou goniômetro padrão
GoniômetroAté 360° 3'
Paralelismo da régua 1,15 µm
Método de comparação com régua/mesa de seno
Método de medição em projetor de perfil ou máquina de medição por coordenadas
Nível de BolhaAté 30 mm/m 0,013 mm/m*
Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um sistema gerador de pequenos deslocamentos
(régua/mesa de seno) com uma base de apoio de comprimento conhecido
Nível EletrônicoAté 30 mm/m 0,01 mm/m*
Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um sistema gerador de pequenos deslocamentos (régua/mesa de seno) com
uma base de apoio de comprimento conhecido
Nível Goniométrico4 Quadrantes até 65 ° 3'
Método de comparação com o ângulo de referência gerado pela mesa ou régua de seno contra o ângulo indicado pelo nível goniométrico

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Apalpador EletrônicoAté 2 mm 0,4 µm*
Método de comparação com calibrador de relógios
Método de comparação com máquina de medição linear
Comparador de DeslocamentoAté 10 mm 0,4 µm*
> 10 até 25 mm 0,9 µm*
Método de comparação com calibrador de relógios.
Método de comparação com máquina de medição linear
Comparador de Diâmetros InternosCurso
Até 1,1 mm 0,7 µm*
Método de comparação com calibrador de relógios, máquina de medição linear ou micrômetro externo
ExtensômetroAté 50 mm 3,4 µm
Método de comparação com máquina de medição linear.
Método de comparação com tambor micrométrico
Gabarito de FolgaAté 2 mm 0,003 mm
Método de medição com micrômetro externo milesimal
Medidor de AlturaAté 200 mm (0,8 +L/354) µm
> 200 até 1000 mm (1,2 +L/400) µm
Método de comparação com blocos padrão sobre desempeno de granito utilizando um relógio apalpador para zeragem
Medidor de Espessura com Relógio ComparadorAté 10 mm 0,001 mm*
> 10 mm até 100 mm 0,003 mm*
Método de comparação com blocos padrão
Medidor de Espessura de Camada de Tinta SecaAté 10 mm [0,5 + (L / 2,4)] µm, L em mm
Método de comparação com padrão de espessura para camada de tinta seca
Micrômetro de ProfundidadeAté 100 mm 0,0009 mm*
> 100 mm até 300 mm 0,0023 mm*
> 300 mm até 500 mm 0,0037 mm*
> 500 mm até 1000 mm 0,0073 mm*
Método de comparação com blocos padrão
Micrômetro ExternoAté 500 mm 1,3 µm
> 500 até 1000 mm (L/380) µm
Método de comparação com blocos padrão, plano óptico e paralelo óptico
ABNT NBR NM ISO 3611:1997
Micrômetro Interno de 2 pontas2 mm até 300 mm *0,003 mm
Método de calibração por comparação com bloco padrão
Micrômetro Interno de 3 pontas5 mm até 140 mm *0,003 mm
Método de comparação com anel liso cilíndrico
PaquímetroAté 500 10 µm
> 500 até 1500 (6 +L/247) µm
Método de comparação com blocos padrão
Método de comparação com anel padrão
ABNT NBR NM 216
JIS B 7507:1993
Régua GraduadaAté 1000 mm 0,015 mm
> 1000 mm até 2000 mm 0,22 mm
Método de medição da distância entre traços, por comparação à régua graduada utilizando lupa de medição
Relógio ApalpadorAté 5 mm *0,0010 mm
Método de comparação com calibrador de relógios
Relógio ComparadorAté 25 mm *0,0010 mm
Método de comparação com calibrador de relógios
Transdutor de Deslocamento0 até 500 mm 2 µm
> 500 até 800 mm 3 µm
> 800 até 1000 mm 4 µm
Método de calibração com bloco padrão ou calibrador de relógio
TrenaAté 10000 mm [0,20 + (L/25000)] mm, L em mm
Método de medição da distância entre traços, por comparação à régua graduada utilizando lupa de medição

MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
Máquina para Medição de RugosidadeAté 2,95 µm (Ra) 4,1 %
Até 9,5 µm (Rz) 4,5 %
Método de comparação com padrão de rugosidade
MicroscópioDeslocamento
Até 50 mm 2 µm
> 50 mm até 300 mm 3 µm
Escala angular
Até 360° 2'
Ampliação
Até 10X 0,01%
> 10X até 50X 0,05%
> 50X até 100X 0,09%
Valor de uma divisão do retículo em função da ampliação da objetiva até 100X 2 µm
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular
Projetor de PerfilDeslocamento
Até 50 mm 2 µm
> 50 mm até 300 mm 3 µm
Escala angular
Até 360° 2'
Ampliação
Até 10X 0,01%
> 10X até 50X 0,05%
> 50X até 100X 0,09%
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com régua de vidro com escala angular
Sistema de Medição Óptico TridimensionalDeslocamento óptico
Até 50 mm 3 µm
> 50 mm até 300 mm 4 µm
Deslocamento por apalpação
Até 500 mm 3 µm
Medição por foco
Até 500 mm 3 µm
Escala angular
Até 360° 2'
Perpendicularidade 3 µm
Erro de apalpamento
Até 50 mm 3 µm
Método de comparação com régua de vidro com escala linear
Método de comparação com bloco padrão
Método de comparação com régua de vidro com escala angular
Método de comparação com anel padrão

MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medição de Rugosidade em Peças Diversas e ComponentesRa - 0,4 µm até 3,04 µm 0,09 µm
Rz - 1,27 µm até 10,66 µm 0,37 µm
Método de medição com rugosímetro
Medições Lineares em Peças Diversas e ComponentesAté 25 mm 0,003 mm
> 25 até 600 mm 0,02 mm
> 600 até 2000 mm 1,6 mm
> 2000 mm até 10000 mm 2,6 mm
Método de medição com Paquímetro; Medidor de alturas; Relógio comparador; Relógio apalpador; Micrômetro externo; Comparador eletrônico de deslocamento
Régua graduada; Trena.

PADRÕES DE COMPRIMENTO
Calibrador de BocaAté 600 mm 0,03 mm
Método de medição com paquímetro
Calibrador Tampão Liso Cilíndrico0,2 mm até 75mm 0,002 mm
> 75 mm até 200 mm 0,012 mm
Método de medição micrômetro milesimal e paquímetro digital

PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
Desempeno300 mm até 3000 mm 3 µm
Determinação do erro de planeza por comparação com nível eletrônico ou nível de precisão de bolha



Observações:

  1. A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%. Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
  2. A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
  3. O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.