Rede Brasileira de Calibração - RBC

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Acreditação Nº	65
Data da Acreditação	08/06/1995
ACREDITAÇÃO VIGENTE	Clique aqui para mais informações.
Última Revisão do Escopo	14/06/2024
Razão Social	Sergio Luiz Lenzi
Nome do Laboratório	K&L Laboratório de Metrologia
Situação	Ativo
Endereço	Rua Sorocaba, 265
Bairro	Floresta
CEP	89212210
Cidade	Joinville
UF	SC
Telefone	(47) 3426-1712
Fax	(47) 3426-1712

Grupo de Serviço de Calibração	DIMENSIONAL
Gerente Técnico	Mauro Godinho
Email	gerencia.tecnica@kellab.com.br.

ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO

Descrição do Serviço	Parâmetro, Faixa e Método	Capacidade de Medição e Calibração (CMC)
*(Realizados nas instalações permanentes)*
INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE ÂNGULO
Escala Angular Digital	Até 360 °	1,0 ´
	Método de comparação com máquina de medição por coordenadas
Escala Angular Graduada	Até 360 °	2,5 ´
	Método de comparação com projetor de perfil
Gabarito de Ângulos	Até 360º	1`
	Método de medição em projetor de perfil e máquina de medição por coordenada
Goniômetro	Até 360º	2´
	Método de comparação com padrão de ângulo (esquadro de granito)
	Método de medição em máquina de medição por coordenadas
Nível de Bolha	Até 400 mm	0,01 mm/m
	Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um dispositivo gerador de pequenos deslocamentos,
	com base de apoio de comprimento conhecido
Nível Goniométrico	Até 360°	1'
	Método de comparação com padrão de ângulo (esquadro de granito)
	Método de medição em máquina de medição por coordenadas
INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Apalpador Eletrônico	Até 5 mm	[0,3 + (L/1000)] µm, sendo L em mm
	Método de comparação com máquina de medição linear
	Método de comparação com sistema laser interferométrico

Calibrador de Relógio Comparador / Apalpador	Até 100 mm	[0,15 + (L/500)] µm, L em mm
	Método de comparação com comparador de deslocamento
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
Comparador de Deslocamento	Até 100 mm	[0,3 + (L/ 1000)] µm, L em mm
	Método de comparação com calibrador de relógios
	Método de comparação com máquina de medição linear
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
Comparador de Diâmetros Internos	Até 400 mm	1,0 µm
	Método de comparação com calibrador de relógios
	Método de comparação com máquina de medição linear
Gabarito de Folga	Até 50 mm	0,5 µm
	Método de medição com máquina de medição linear
Gabarito de Raio	Até 500 mm	5,0 µm
	Método de medição com projetor de perfil ou máquina medição por coordenadas
Medidor de Altura	Até 1000 mm	[1,5 + (L/500)] µm, L em mm
	Método de comparação com padrão escalonado
	Método de comparação com blocos padrão sobre desempeno de granito
Medidor de Espessura com Relógio Comparador	Até 400 mm	1,0 µm
	Método de comparação com blocos padrão
	Método de calibração com calibrador de relógios
Medidor de Espessura de Camada de Tinta Seca	Até 2 mm	1,0 µm
	Método de comparação com padrão de espessura para camada de tinta seca
Micrômetro de Profundidade	Até 150 mm	2 µm
	(> 150 até 500) mm	[5 + (L/100)] µm, sendo L em mm
	Método de comparação com blocos padrão e padrão escalonado de profundidade
Micrômetro Externo	Até 25 mm	0,3 µm
	(> 25 até 100) mm	2 µm
	(> 100 até 200) mm	4 µm
	(> 200 até 300) mm	7 µm
	(> 300 até 600) mm	9 µm
	(> 600 até 700) mm	10 µm
	(> 700 até 900) mm	13 µm
	(> 900 até 1000) mm	16 µm
	(>1000 até 2000) mm	30 µm

	Método de comparação com blocos padrão, plano óptico e paralelos ópticos
Micrômetro Interno de 2 pontas	(2 até 500) mm	[1 + (L/ 500)] µm, sendo L em mm
	(> 500 até 2000) mm	[5 + (L/ 220)] ìm, sendo L em mm
	Método de calibração com máquina de medição por coordenadas
	Método de calibração com calibrador anel liso cilíndrico
	Método de calibração com máquina de medição linear
Micrômetro Interno de 3 pontas	2 mm até 200 mm	2 µm
	Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico
Paquímetro	Até 300 mm	0,01 mm
	(> 300 até 600) mm	0,02 mm
	(> 600 até 1000) mm	0,03 mm
	(> 1000 até 2000) mm	0,04 mm

	Método de comparação com blocos padrão
	Método de comparação com padrão escalonado
	Método de comparação com anel liso cilíndrico
Peneira Granulométrica	Até 4 mm	4 µm
	(> 4 mm até 100) mm	0,02 mm
	Medição de aberturas e diâmetros de fios ou arames com projetor de perfil, máquina de medição por coordenadas ou paquímetro
Régua Graduada	Até 600 mm	[1,0 + (L/1000)] µm, L em mm
	(> 600 até 3000) mm	[0,05 + (L/10000)] mm, L em mm
	Medição da distância entre traços, com máquina de medição linear ou projetor de perfil
	Método de comparação com sistema laser interferométrico ou com máquina de medição linear.
Relógio Apalpador	Até 10 mm	0,7 µm
	Método de comparação com calibrador de relógios
	Método de comparação com máquina de medição linear
Relógio Comparador	Até 100 mm	0,7 µm
	Método de calibração com calibrador de relógios
	Método de calibração com máquina de medição linear
Tambor Micrométrico	Até 100 mm	[0,5 + (L/500)] µm, sendo L em mm
	Método de comparação com máquina de medição linear
Trena	Até 0,6 m	0,04 mm
	(> 0,6 até 100) m	[0,1 + (L/12)] mm, sendo L em m
	Método de comparação com máquina de medição linear
Trena a Laser	Até 25 m	[0,3 + (L/25)] mm, L em m
	ISO 16331-1:2017
	Método de comparação com trena a laser padrão
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
Comparador de Blocos Padrão	Até 100 mm	0,04 µm
	Método de comparação com blocos padrão
Máquina de Medição de Forma	Cilindricidade	0,55 µm
	Circularidade	0,05 µm
	Retitude vertical até 450 mm	0,30 µm
	Retitude horizontal até 150 mm	0,30 µm
	Paralelismo até 450 mm	0,85 µm
	Planeza até 50 mm	0,10 µm
	Planeza (> 50 até 100) mm	0,15 µm
	Perpendicularidade até 300 mm	0,50 µm
	Perpendicularidade (> 300 até 450) mm	1,7 µm
	Sensibilidade do apalpador	0,05 µm
	Método de comparação com padrão de circularidade, esfera padrão, esquadro cilíndrico e plano óptico
Maquina de Medição de Perfil	Eixo X até 300 mm	[0,9 + (L/300)] µm, L em mm
	Eixo Z até 300 mm	0,3 µm
	Raio	0,9 µm
	Ângulo	0,020 °
	Método de comparação com padrão de perfil, blocos padrão e esfera padrão
Máquina de Medição Linear	Até 5000 mm	[0,2 + (L/1000)] µm, L em mm
	Método de comparação com blocos padrão
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
Microscópio	Comprimento: Até 300 mm	[1,4 + (L/300)] µm, L em mm
	Ângulo: Até 360º	1,5´
	Ampliação da objetiva: até 2500 X	1,0%
	Valor de divisão do reticulo em função da objetiva: Até 2500 X	0,7 µm
	Método de comparação com régua de vidro
	Método de comparação com escala angular
Projetor de Perfil	Eixos X e Y: Até 600 mm	[1,4 + (L/300)] µm, sendo L em mm
	Processador geométrico do software: Até 10 mm	2,0 µm
	Medição angular: Até 360º	2 '
	Ampliação da lente: Até 50 x	0,03 %
	Ampliação da lente: (> 50 até 100) x	0,10 %
	Método de comparação com régua de vidro com escala linear
	Método de comparação com régua de vidro com escala angular
MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças Diversas	Circularidade:
	Até 280 mm	0,05 µm
	(> 280 até 2000) mm	[5 + (L/220)] µm, L em mm
	(> 2000 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Cilindricidade:
	Até 280 mm	0,40 µm
	(> 280 até 2000) mm	[5 + (L/220)] µm, L em mm
	(> 2000 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Planeza:
	Até 280 mm	0,10 µm
	(> 280 até 3000) mm	1,5 µm
	(> 3000 até 6000) mm	6,0 µm
	Retitude:
	Até 300 mm	0,20 µm
	(> 300 até 1000) mm	5 µm
	(> 1000 até 2000) mm	[5 + (L/220)] µm, L em mm
	(> 2000 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Paralelismo:
	Até 300 mm	0,20 µm
	(> 300 até 1000) mm	5 µm
	(> 1000 até 2000) mm	[5 + (L/220)] µm, L em mm
	(> 2000 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Perfil de linha,perfil de superfície,posição de um elemento,concentricidade, coaxilidade,simetria, perpendicularidade,inclinação, batimento axial
	Até 300 mm	0,8 µm
	(> 300 até 2000) mm	5 µm
	(> 2000 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Até 360 °	1 ´
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
	Método de comparação com máquinas, instrumentos e gabaritos de medição de comprimento e ângulo ou padrões de referência
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes	Até 2000 mm	[0,2 + (L/1000)] µm, L em mm
	(> 2000 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
	Método de comparação com máquinas, instrumentos e gabaritos de medição de comprimento ou padrões de referência
PADRÕES DE COMPRIMENTO
Arame para Medição de Roscas	Até 10 mm	[0,5 + (L/500)] µm, sendo L em mm
	Método de medição com máquina de medição linear
Bloco Padrão	(0,5 até 100) mm	0,05 µm até 0,12 µm
	(> 100 até 600) mm	[0,3 + (L/500)] µm, L em mm
	Método de comparação com blocos padrão de referência
	Método de comparação com máquina de medição linear e bloco padrão
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
Calibrador Anel Estriado	(2 até 200) mm (Parâmetro Mdk)	[1,5 + (L/ 500)] µm, sendo L em mm
	Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico e máquina de medição linear
Calibrador Anel Liso Cilíndrico	Parâmetros: Diâmetro 1 mm até 200 mm	[0,7 + (L/500)] µm, sendo L em mm
	Diâmetro: Método da comparação direta com calibrador anel liso cilíndrico, utilizando uma máquina de medição linear

Calibrador Anel Liso Cônico	Diâmetro: Até 500 mm	5 µm
	Conicidade: < 90°	1 ´
	Método de comparação direta utilizando uma máquina de medição por coordenadas
Calibrador de Boca	1 mm até 200 mm	[0,7 + (L/500)] µm, sendo L em mm
	Método de comparação com um calibrador anel liso cilíndrico, utilizando uma máquina de medição linear
Calibrador Tampão Estriado	Até 200 mm (Parâmetro Mdk)	[1,5 + (L/ 500)] µm, sendo L em mm
	Método de comparação com bloco padrão e máquina de medição linear
Calibrador Tampão Liso Cilíndrico	Parâmetros: Diâmetro até 300 mm	[0,5 + (L/500)] µm, sendo L em mm
	Diâmetro: Método de comparação direta utilizando uma máquina de medição linear

Calibrador Tampão Liso Cônico	Diâmetro: Até 300 mm	5 µm
	Conicidade: < 90°	1 ´
	Método da comparação com máquina de medição por coordenadas

Esfera Padrão	Parâmetros: Diâmetro até 250 mm	[0,5 + (L/500)] µm, L em mm
	Circularidade	0,10 µm
	Método de comparação com máquina de medição linear e bloco padrão
	Método de comparação com máquina de medição de forma
Haste Padrão	Até 500 mm	[0,5 + (L/ 500)] µm, sendo L em mm
	> (500 até 1000) mm	5 µm
	> (1000 até 1500) mm	8 µm
	> (1500 até 2000) mm	10 µm
	Método de comparação com bloco padrão utilizando máquina de medição linear ou máquina de medição por coordenadas
Haste Padrão para Micrômetro de Rosca	Até 500 mm	5 µm
	Método de comparação utilizando máquina de medição por coordenadas
Moldura	Até 500 mm	5 µm
	Método de comparação com máquina de medição por coordenadas.
Padrão de Espessura para Medidas de Espessura de Camada de Tinta Seca	Até 10 mm	0,5 µm
	Método de medição com máquina de medição linear
Padrão Escalonado	Até 2000 mm	[0,8 + (L/1000)] µm, L em mm
	Método de comparação com sistema laser interferométrico Método de comparação com padrão escalonado de referência em máquina de medição por coordenadas
Padrão Escalonado com Tambor Micrométrico	Até 2000 mm	0,8 + (L/1000)] µm, L em mm
	Método de comparação com sistema laser interferométrico Método de comparação com padrão escalonado de referência em máquina de medição por coordenadas
Padrão Escalonado para Micrômetro de Profundidade	Até 2000 mm	[0,8 + (L/1000)] µm, L em mm
	Método de comparação com sistema laser interferométrico Método de comparação com padrão escalonado de referência em máquina de medição por coordenadas
PADRÕES DE ÂNGULO
Esquadro	Até 2000 mm	[5 + (L/ 220)] µm, L em mm
	Método de medição em máquina de medição por coordenadas
Esquadro Cilíndrico	Até (Ø 280 x 300) mm
	Circularidade	0,1 µm
	Cilindricidade	1,0 µm
	Retitude vertical	0,6 µm
	Paralelismo	1,3 µm
	Perpendicularidade	5,0 µm/m ; 1 "
	Método de comparação com máquina de medição de forma e esquadro cilíndrico padrão
PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
Cilindro Padrão	Até (Ø 280 x 300) mm
	Circularidade	0,1 µm
	Cilindricidade	1,0 µm
	Retitude vertical	0,6 µm
	Paralelismo	1,3 µm
	Perpendicularidade	5,0 µm/m ; 1 "
	Método de comparação com máquina de medição de forma e esquadro cilíndrico padrão
Padrão de Circularidade	Até 150 mm	0,06 µm
	Método de comparação com padrão de circularidade de referência e máquina de medição de forma
Padrão de Perfil	Até 300 mm	[0,9 + (L/200)] µm, L em mm
	Até 180 °	0,020 °
	Método de comparação com padrão de perfil de referência e máquina de medição de perfil
Régua Padrão de Retitude	Até 2000 mm	[5 + (L/ 220)] µm, L em mm
	Método de determinação da retitude utilizando máquina de medição por coordenadas
PADRÕES E GABARITOS PARA ROSCA
Calibrador Ajustável Roscado	(2 até 200) mm	4 µm
	Método de medição com máquina de medição linear
	EURAMET cg-10:2012
Calibrador Anel Roscado Cilíndrico	(2 até 200) mm	4 µm
	Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico ou filetes padrão em máquina de medição linear (método das duas esferas)
	EURAMET cg-10:2012
Calibrador Anel Roscado Cônico	(2 até 200) mm	4 µm
	Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico ou filetes padrão em máquina de medição linear (método das duas esferas)
	EURAMET cg-10:2012
Calibrador Tampão Roscado Cilíndrico	Até 200 mm	3 µm
	Método de medição com máquina de medição linear utilizando arames duplos e simples
	EURAMET cg-10:2012
Calibrador Tampão Roscado Cônico	Até 200 mm	3 µm
	Método de medição com máquina de medição linear utilizando arames duplos e simples
	EURAMET cg-10:2012
Gabarito de Roscas	Passo: Até 10 mm	3 µm
	Ângulo: Até 60º	3´
	Método de medição em projetor de perfil
*(Realizados nas instalações do cliente)*
INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE ÂNGULO
Escala Angular Digital	Até 360 °	2,0 ´
	Método de comparação com escala angular digital
INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Calibrador de Relógio Comparador / Apalpador	Até 100 mm	[0,15 + (L/500)] µm, L em mm
	Método de comparação com comparador de deslocamento
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
Máquina de Medição de Forma	Cilindricidade	0,55 µm
	Circularidade	0,05 µm
	Retitude vertical até 450 mm	0,30 µm
	Retitude horizontal até 150 mm	0,30 µm
	Paralelismo até 450 mm	0,85 µm
	Planeza até 50 mm	0,10 µm
	Planeza (> 50 até 100) mm	0,15 µm
	Perpendicularidade até 300 mm	0,50 µm
	Perpendicularidade (> 300 até 450) mm	1,7 µm
	Sensibilidade do apalpador	0,05 µm
	Método de comparação com padrão de circularidade, esfera padrão, esquadro cilíndrico e plano óptico
Maquina de Medição de Perfil	Eixo X até 300 mm	[0,9 + (L/300)] µm, L em mm
	Eixo Z até 300 mm	0,3 µm
	Raio	0,9 µm
	Ângulo	0,020 °
	Método de comparação com padrão de perfil, blocos padrão e esfera padrão
Máquina de Medição Linear	Até 40000 mm	[0,2 + (L/1000)] µm, sendo L em mm
	Método de comparação com blocos padrão
	Métodode de comparação com sistema laser interferométrico
Microscópio	Comprimento: Até 300 mm	[1,4 + (L/300)] µm, L em mm
	Ângulo: Até 360º	1,5´
	Ampliação da objetiva: até 2500 X	1,0%
	Valor de divisão do reticulo em função da objetiva: Até 2500 X	0,7 µm
	Método de comparação com régua de vidro
	Método de comparação com escala angular
Projetor de Perfil	Eixos X e Y: até 600 mm	[1,4 + (L/300)] µm, L em mm
	Processador geométrico do software: Até 10 mm	2,0 µm
	Medição angular: Até 360º	2 '
	Ampliação da lente: Até 50 x	0,03 %
	Ampliação da lente: (> 50 até 100) x	0,10 %
	Método de comparação com régua de vidro com escala linear
	Método de comparação com régua de vidro com escala angular
MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças Diversas	Circularidade:
	Até 100 mm	1,0 µm
	(> 100 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Cilindricidade:
	Até 100 mm	1,0 µm
	(> 100 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Planeza:
	Até 25 mm	0,5 µm
	(> 25 até 3000) mm	1,5 µm
	(> 3000 até 8000) mm	6,0 µm
	(> 8000 até 15000) mm	50 µm
	Retitude:
	Até 500 mm	10 µm
	(> 500 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Paralelismo:
	Até 100 mm	1,0 µm
	(> 100 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Perfil de linha, perfil de superfície, posição de um elemento, concentricidade, coaxilidade, simetria,
	perpendicularidade, inclinação, batimento radial e batimento axial
	Até 300 mm	10 µm
	(> 300 até 3000) mm	[10 + (L/100)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	Até 360 °	1 ´
	Método de medição com sistema laser interferométrico, máquina de medição linear, braço articulado de medição, sistema óptico tridimensional
	ou padrões de referência
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes	Até 3000 mm	[0,2 + (L/1000)] µm, L em mm
	(> 3000 até 6000) mm	[10 + (L/50)] µm, L em mm
	(> 6000 até 25000) mm	(0,5 até 6,0) mm
	Método de comparação com sistema laser interferométrico
	Método de comparação com máquinas, instrumentos e gabaritos de medição de comprimento e ângulo ou padrões de referência

Observações:

A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%. Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.